目是指一平方英寸上可以打多少個孔（眼，也是目），是多少個目。目數(shù)越多，每個孔的直徑越小，因此經常用目數(shù)來表示粉體的細度。粉體細度粒徑單位換算對照表粒徑（m）微米um納米nm目數(shù)單位(目)10-4m100umnm180目10-5m10um10000nm1800目10-6m1um1000nm1.8萬目10-7m0.1um100nm18萬目10-8m0.01um10nm180萬目10-9m0.001um1nm1800萬目10-9m以下0.001um以下進入i1nm以下接近原子大1800萬目以上1米（m）=100厘米（cm）；1厘米（cm）=10-2m=10毫米（mm）；1毫米（mm）=10-3m=1000微米（um）；1微米（um）=10-6m=1000納米（nm）；1納米=10-9m。病毒大小約100納米納米(nm)=[10的-710的-9次方米]之間=細度大小折合目數(shù)單位換算約18萬目～1800萬目。微米(um)=[10的-6次方米以下]=細度大小折合目數(shù)單位換算約1.8萬目以下。微米之極限細度是18000目。趨納米=微納米=[10的-6次方米][10的-7次方米]之間=180。

該樓層疑似違規(guī)已被系統(tǒng)折疊前排D大提到的觀點很有意思，大家不妨討論一下。關于浮動軸承，我們的觀點是這樣的：浮動的中軸在磨粉時用手晃不動，確實是因為顆粒物填塞了刀盤之間的間隙，中軸依靠刀盤和粉之間的作用力得到支撐。但是，這個支撐不是穩(wěn)定的，因此這種晃不動只是瞬態(tài)，而在這個瞬態(tài)，中軸是否在設計軸線上，是不一定的。也是說，中軸晃不動并不能說中軸的同心度很好。大家可以從用極端的兩種狀態(tài)理解這種瞬態(tài)平衡：磨豆啟動和即將結束時。這兩種狀態(tài)刀盤間咬合的豆子不多，不能形成整圈的咬合，所以，咬合了豆子的一側，會通過刀盤將中軸推向未咬合豆子的另一側，這時，中軸自然地不在設計軸線上了。由于刀盤之間和豆子的作用隨機性很大，這是因為豆子的大小、密度和硬度各不相同（即使是同一批烘焙的豆子），刀盤轉動研磨時豆子的破碎是隨機發(fā)生的，這時有兩種情況：在整個圓周上豆子均勻地被切碎和壓碎，這時，中軸會保持在這一穩(wěn)定狀態(tài)前一瞬間的位置不變，這種狀態(tài)只存在于理論模型中；更多的情況是，豆子在整個圓周上此起彼伏地被切碎和壓碎，這時反映到內刀上的作用力會將中軸來回的“推搡”，中軸會在設計軸線左右前后的晃動，當然這個推搡是在一定。

原標題：分析:粉體粒度和粒度的分布粉體粒度、粒度分布分析1、粉體顆粒粒度定義粉體一般由不同尺寸的顆粒組成，這些尺寸分布在某一范圍內。對不規(guī)則形狀顆粒的尺寸定義有很多種，我們關注的一般是平均顆粒尺寸，根據(jù)定義不同有三種：線性平均粒徑、表面平均粒徑和體積平均粒徑。深圳方泰新材料技術，方圓有度、安若泰山，是精密陶瓷柱塞行業(yè)標桿，咨詢熱線：.顆粒形狀對流動性和粉末堆積程度有一定影響，一般傾向于球形和等軸狀粉末的使用，因為它們能提升固體的堆積同質性。2、粉體粒度及粒度分布表征方法粉體粒度及粒度分布表征方法主要有：篩分法、顯微分析法、沉積法、激光法、電子傳感技術、X射線衍射法。目前常用的粒度分析方法是采用激光粒度分析儀。返回搜狐，查看更多責任編輯：。

物性測試粒徑顆粒的大小稱作粒度，顆粒的直徑稱做粒徑。通常用粒徑來表示粒度。我們知道只有圓球形的幾何體才有直徑，而實際測量顯微鏡的物質形狀各異，是有不存在真實直徑的。因此在粒度分布測量顯微鏡過程中所說的粒徑并非顆粒的真實直徑，而是虛擬的“等效直徑”。等效直徑是當被測顆粒的某一物理特性與某一直徑的同質球體相近時，把該球體的直徑作為被測顆粒的等效直徑。因此用不同原理設計的粒度方法的數(shù)據(jù)經常有較大的差異。雖然有些儀器有軟件進行換算，實際使用既沒必要，也不準確。表示粒度特性的幾個關鍵指標：①D50：一個樣品的累計粒度分布百分數(shù)達到50%時所對應的粒徑。它的物理意義是粒徑大于它的顆粒占50%，小于它的顆粒也占50%，D50也叫中位徑或中值粒徑。D50常用來表示粉體的平均粒度。②D97：一個樣品的累計粒度分布數(shù)達到97%時所對應的粒徑。它的物理意義是粒徑小于它的的顆粒占97%。D97常用來表示粉體粗端的粒度指標。其它如D16、D90等參數(shù)的定義與物理意義與D97相似。③比表面積：單位重量的顆粒的表面積之和。比表面積的單位為m2/kg或cm2/g。比表面積與粒度有一定的關系，粒度越細，比表面積越大。